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Si und SiC: Fokusringe, Waferkanten und Notches bearbeiten

Von der Ringstruktur bis zur fertigen Kontur zeigt der Katalog Werkzeuge für Silizium- und Siliziumkarbid-Bauteile. Kernwerkzeuge, galvanische Schleifwerkzeuge und Fein-Schleifscheiben ergänzen das Programm für Waferkanten und Notches.

Si und SiC: Fokusringe, Waferkanten und Notches bearbeiten
Si und SiC: Fokusringe, Waferkanten und Notches bearbeiten

Kernbearbeitung, Fokusringkonturen sowie Kanten- und Notch-Schleifen

EHWA DIAMOND – seit 1975

Vom Ringrohling zur fertigen Kontur

EHWA bietet aufeinander abgestimmte Werkzeugformen für die Kernbearbeitung, das Grob- und Feinschleifen von Fokusringen sowie die Kanten- und Notch-Bearbeitung von Wafern. Unterschiedliche Bindungen und Werkzeuggeometrien verbinden Abtragsleistung, Standzeit und Maßgenauigkeit mit der jeweiligen Bearbeitungsaufgabe.

Si bezeichnet Silizium, SiC Siliziumkarbid. Werkstoff und Herstellungsart gehören zur Werkzeugauswahl: Das Programm umfasst beide Werkstoffe, die unten dokumentierten Bearbeitungsbeispiele unterscheiden jedoch ausdrücklich Si-Fokusringe von gesinterten oder CVD-SiC-Bauteilen.

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Kernwerkzeuge: eine Ringstruktur aus Si oder SiC herstellen

Die Kernwerkzeuge entfernen den mittleren Bereich einer Si- oder SiC-Platte und erzeugen so eine ringförmige Struktur. EHWA fertigt verschiedene Werkzeugformen und Werkstoffausführungen entsprechend der Bearbeitungsaufgabe.

Kernwerkzeug im Bearbeitungsaufbau.
Kernwerkzeug im Bearbeitungsaufbau.
Kernwerkzeuge in unterschiedlichen Ausführungen.
Kernwerkzeuge in unterschiedlichen Ausführungen.

Merkmale und Vorteile

  • Unterschiedliche Werkzeugformen für verschiedene Bearbeitungszwecke.
  • Galvanische, gesinterte oder gelötete Schneidbeläge, abgestimmt auf Kundenanforderung und gewünschte Bearbeitungsleistung.
  • In der Praxis bewährte, gleichmäßige Bearbeitungsqualität.
  • Auswahl von Geometrie und Werkstoffausführung nach Standzeit, Schleiffähigkeit und Maßgenauigkeit.

Werkzeugaufnahme, Plattendicke und gewünschte Ringgeometrie bilden die Grundlage für die konkrete Auslegung.

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Galvanische Werkzeuge für die Grobbearbeitung von Si-Fokusringen

Die gezeigten galvanischen Werkzeuge bearbeiten unterschiedliche Konturen am Si-Fokusring, unter anderem den Außendurchmesser, die Innenkontur und konische Bereiche. Das Formbeispiel zeigt den Übergang vom einfachen Ring zur profilierten Ringkontur.

Galvanische Werkzeuge für die Grobbearbeitung von Si-Fokusringen.
Galvanische Werkzeuge für die Grobbearbeitung von Si-Fokusringen.
Vom einfachen Ring zur profilierten Si-Fokusringkontur.
Vom einfachen Ring zur profilierten Si-Fokusringkontur.

EHWA kann unterschiedliche Werkzeugausführungen für Fasen, Bohrungen, Innenkonturen und die in der Unterlage genannte Gewindebearbeitung herstellen.

Gezeigte Werkzeuggruppe Bearbeitungsaufgabe
Chamfering Wheel Fasenbearbeitung
Hole Grinding Bohrungsschleifen
Arbor Grinding Innenkonturbearbeitung
Tap Grinding Gewindebearbeitung; konkrete Kontur nach Bauteilzeichnung

Fasenwerkzeuge

Fasenwerkzeug: erste gezeigte Ausführung.
Fasenwerkzeug: erste gezeigte Ausführung.
Fasenwerkzeug: zweite gezeigte Ausführung.
Fasenwerkzeug: zweite gezeigte Ausführung.

Bohrungsschleifen

Werkzeuge für das Bohrungsschleifen.
Werkzeuge für das Bohrungsschleifen.
Weitere Ausführung zum Bohrungsschleifen.
Weitere Ausführung zum Bohrungsschleifen.

Innenkontur und Tap Grinding

Werkzeug für die Innenkonturbearbeitung, EHWA-Bezeichnung Arbor Grinding.
Werkzeug für die Innenkonturbearbeitung, EHWA-Bezeichnung Arbor Grinding.
Werkzeugausführung für Tap Grinding.
Werkzeugausführung für Tap Grinding.

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Keramisch und kunstharzgebundene Werkzeuge für die Feinbearbeitung

Die Feinbearbeitung umfasst Si- und SiC-Fokusringe mit Außen- und Innenkonturen sowie konischen Bereichen. EHWA führt hierfür keramische und kunstharzgebundene Schleifscheiben auf. Die Prozessschemata zeigen ausdrücklich keramisch gebundene Scheiben; die konkrete Bindung und Körnung richten sich nach Werkstoff, Kontur und Oberflächenziel.

Schleifwerkzeuge für die Feinbearbeitung von Si-/SiC-Fokusringen.
Schleifwerkzeuge für die Feinbearbeitung von Si-/SiC-Fokusringen.
Schleifscheibe im SiC-Bearbeitungsbeispiel.
Schleifscheibe im SiC-Bearbeitungsbeispiel.

Si-Fokusring: Querschnitt und Bearbeitungsrichtungen

Das Querschnittsschema stellt die bearbeiteten Flächen rot dar. Die Werkzeugpositionen und Pfeile zeigen Schleifrichtungen entlang der Z-Achse sowie kombinierte Richtungen entlang der X- und Z-Achse. Damit werden unterschiedliche Ringflächen und Konturen erreichbar.

Si-Fokusring: Querschnitt, keramische Scheiben und Schleifrichtungen.
Si-Fokusring: Querschnitt, keramische Scheiben und Schleifrichtungen.

SiC-Fokusring: Entgraten, Grobschleifen und Feinschleifen

Das SiC-Schema zeigt zunächst den Gratabtrag und das Grobschleifen, anschließend das Feinschleifen. In beiden Stufen ist die Schleifrichtung entlang der X-Achse markiert. Die rote Linie kennzeichnet die Schleiffläche; der Grat ist im ersten Zustand gesondert dargestellt.

SiC-Fokusring: Entgraten/Grobschleifen und anschließendes Feinschleifen.
SiC-Fokusring: Entgraten/Grobschleifen und anschließendes Feinschleifen.

Dokumentiertes Bearbeitungsbeispiel für SiC

Die folgende vollständige Spezifikation beschreibt das gezeigte Beispiel mit gesintertem oder CVD-SiC. Sie bietet einen Ausgangspunkt für die Abstimmung von Werkzeug, Maschine und Oberfläche.

Parameter Angabe im Bearbeitungsbeispiel
Kunde Nicht genannt
Scheibenkennung VD-14A1_305D-35T-5X-30U-127H
Maschine Rotations-Flachschleifmaschine
Schleifspezifikation D120N125VD, D600N125VA, D800N125VA
Umfangsgeschwindigkeit 50–70 m/s
Werkstück Gesintertes SiC oder CVD-SiC
Kühlschmierstoff Emulsion
Geforderte Rauheit nach dem Schleifen Ra 0,10–0,05
Tischdrehzahl Nicht angegeben
Vorschub Grobbearbeitung: 1500 mm/min
Abrichtwerkzeug SiC #80
Abrichtsystem Nicht angegeben
Abrichtbetrag Nicht angegeben
Abrichtintervall 3–5

Für Ra und das Abrichtintervall nennt das Beispiel keine Einheit beziehungsweise Bezugsgröße. Die Angaben werden zusammen mit der geforderten Oberfläche und dem tatsächlichen Maschinenzyklus abgestimmt.

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Si-/SiC-Waferkanten und Notches

EHWA bietet profilierte Schleifscheiben und kleine Notch-Werkzeuge für die Bearbeitung von Si- und SiC-Wafern. Unterschiedliche Nutformen lassen sich entsprechend der geforderten Kantenkontur auslegen.

Werkzeuge für Waferkanten und Notches.
Werkzeuge für Waferkanten und Notches.

Vorteile der profilierten Ausführungen

  • Unterschiedliche Nutformen nach Anforderung.
  • Gleichmäßige Fasenbreite durch eine steife Werkzeugausführung.
  • Gute Erhaltung der Nutform während der Bearbeitung.
  • Mehrstufiges Grob- und Feinschleifen mit einem entsprechend ausgelegten Werkzeug.
Wafer im Träger als Anwendungsbeispiel.
Wafer im Träger als Anwendungsbeispiel.
Waferkanten mit Notches im Anwendungsbild.
Waferkanten mit Notches im Anwendungsbild.

Werkzeugform und Nutkontakt

Die technische Darstellung zeigt die profilierte Schleifscheibe und eine Kontaktposition innerhalb einer Nut. Profil, Fasenbreite und Werkzeugsteifigkeit werden gemeinsam für die Waferkante festgelegt.

Ursprüngliche Werkzeugdarstellung der Kanten-Schleifscheibe.
Ursprüngliche Werkzeugdarstellung der Kanten-Schleifscheibe.
Nutprofil mit dargestellter Kontaktposition.
Nutprofil mit dargestellter Kontaktposition.
Anwendung Durchmesserkennung Körnungsbereich
Kantenschleifen 100D–300D #400–#3000
Notch-Schleifen 3.2D–4.2D #400–#3000

Die D-Kennungen sind im Original ohne separate Maßdefinition angegeben; Werkzeugdurchmesser und Aufnahme werden für die Anlage bestätigt.

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Notch-Schleifen: Grob- und Feinstufe

Die Unterlage zeigt drei Werkzeugformen: eine kombinierte Ausführung für die erste und zweite Bearbeitungsstufe, eine Ausführung für die erste Grobstufe und eine für die zweite Feinstufe.

Kombinierte erste und zweite Stufe

Notch-Werkzeug für erste und zweite Bearbeitungsstufe.
Notch-Werkzeug für erste und zweite Bearbeitungsstufe.

Erste Stufe: Grobbearbeitung

Notch-Werkzeug für die erste Grobbearbeitungsstufe.
Notch-Werkzeug für die erste Grobbearbeitungsstufe.

Zweite Stufe: Feinbearbeitung

Notch-Werkzeug für die zweite Feinbearbeitungsstufe.
Notch-Werkzeug für die zweite Feinbearbeitungsstufe.
Notch-Werkzeug mit dargestellter Kontaktposition.
Notch-Werkzeug mit dargestellter Kontaktposition.

Die Vorher-/Nachher-Aufnahmen veranschaulichen die bearbeitete Notch-Kante.

Notch-Kante vor der Bearbeitung.
Notch-Kante vor der Bearbeitung.
Notch-Kante nach der Bearbeitung.
Notch-Kante nach der Bearbeitung.

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Prozessbeispiel für 12-Zoll-Wafer

Das Schema verbindet eine metallgebundene Scheibe für die Grobbearbeitung mit einer kunstharzgebundenen Scheibe für die Feinbearbeitung. Es zeigt außerdem das Profilabrichten mit einem SiC-Abrichtkörper.

12-Zoll-Wafer: Grob-/Feinschleifen und Profilabrichten.
12-Zoll-Wafer: Grob-/Feinschleifen und Profilabrichten.
Bestandteil im Schema Gezeigte Zuordnung
Metallgebundene Scheibe Grobschleifen, #800
Abrichtbereich der metallgebundenen Scheibe Profilieren des SiC-Abrichtkörpers, #600
Kunstharzgebundene Scheibe Feinschleifen, #2500
Si-Wafer Auf einer Aufnahme zwischen Grob- und Feinstufe
SiC-Abrichtkörper Auf einer Aufnahme; SiC-Profilabrichten und Profilabrichten der Kunstharzscheibe

Die im Ablauf dargestellten #800, #600 und #2500 gehören zu diesem Prozessbeispiel. Die daneben aufgeführten #400–#3000 beschreiben den breiteren Werkzeugbereich für Kanten- und Notch-Schleifen.

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Ihre Si-/SiC-Bearbeitung gemeinsam auslegen

Für den Einstieg helfen die Bauteilzeichnung, Si- oder SiC-Werkstoffausführung, Maschine und Werkzeugaufnahme. Bei Fokusringen sind Außen- und Innenkonturen, konische Flächen, Plattendicke und Oberflächenziel besonders nützlich. Für Waferkanten und Notches ergänzen Sie Waferformat, Kantenprofil, gewünschte Fasenbreite und vorhandene Grob-/Feinstufen.

Vorhandene Spezifikationen, Vorschübe, Kühlschmierstoffe und Abrichtzyklen erleichtern die Abstimmung. Gemeinsam lässt sich die Werkzeugausführung auf Maßgenauigkeit, Abtragsleistung und Standzeit ausrichten.

EHWA Europe: info@ehwadia.de · +49 6173 997780

Redaktionsstand: 13.10.2026. Technische Grundlage: vollständige EHWA-Unterlagen Si_SiC PARTS (eine Seite) und Si-Parts_2026 (vier Seiten).

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